Optique silicium - Prisme Si ATR
Paramètre de produit
L'utilisation du spectre d'absorption laser du prisme ATR est une technologie à développement rapide du spectre infrarouge, et c'est également la technique d'échantillonnage la plus répandue à l'heure actuelle.Il peut être testé qualitativement ou quantitativement, mais nécessite peu ou pas de préparation d'échantillon. Cela peut considérablement accélérer les tests et améliorer l'efficacité, de l'ATR à réflexion multiple à l'ATR à réflexion unique, de la mesure de la température normale à la mesure de la dépendance à la température (maximum température jusqu'à 300 degrés Celsius), de la technologie de pression atmosphérique à la technologie supercritique à haute pression. Pour la taille disponible ou la taille personnalisée, veuillez contacter nos ventes pour toute demande. | ||||||||
Exigence technique | Qualité commerciale | Qualité de précision | Haute précision | |||||
Gamme de taille | 1-600mm | 2-600mm | 2-600mm | |||||
Tolérance dimensionnelle | 土0.1mm | 土0.025mm | 土0.01mm | |||||
Tolérance angulaire | ±3´ | ±30´´ | ±5´´ | |||||
Qualité de surface | 60-40 | 40-20 | 20-10 | |||||
Précision de surface | 1.0λ | λ/10 | λ/20 | |||||
enrobage | 3-5 μm T > 97 % | |||||||
Biseautage | 0.1-0.5mm*45° | |||||||
Substrat | Silicium de qualité optique | |||||||
Longueur(mm) | Largeur(mm) | Épaisseur(mm) | Angle | Remarque | ||||
42 | 14 | 2 | 45 | |||||
50 | 20 | 2 | 45 | |||||
52 | 20 | 2 | 45 | |||||
52 | 20 | 2 | 45 | |||||
60 | 12 | 4 | 45 | |||||
68 | 10 | 6 | 45 |